Technicall Cleanliness

La Technical Cleanliness (TCA) es un estándar crítico de calidad industrial que garantiza que los componentes y sistemas estén libres de partículas y contaminantes que puedan causar fallas, desgaste prematuro o pérdidas de rendimiento. En sectores como automotriz, aeroespacial, hidráulica, electrónica y manufactura avanzada, incluso una partícula metálica de micras puede provocar bloqueos, cortocircuitos o fallas funcionales.  

TCA se basa en la evaluación cuantitativa de contaminantes residuales —partículas, fibras, astillas, óxidos, lubricantes— mediante métodos estandarizados como VDA 19.1, ISO 16232, y normas para fluidos como ISO 4406. Estos estándares aseguran compatibilidad global en la cadena de suministro y establecen procedimientos estrictos de extracción, filtración, análisis microscópico y clasificación de partículas.  

Las aplicaciones clave incluyen: 

  • Limpieza de componentes: evaluación de contaminación en superficies internas y externas de piezas críticas, reduciendo fallas y mejorando la vida útil.  
  • Limpieza ambiental: monitoreo de partículas en áreas de producción para identificar fuentes de contaminación y garantizar procesos limpios.  
  • Limpieza de aceites y fluidos: análisis de lubricantes e hidráulicos para evitar desgaste y asegurar confiabilidad del sistema.  

En resumen, TCA es un pilar de calidad industrial moderna, indispensable para asegurar confiabilidad, reducir costos por fallas y cumplir con estándares internacionales en manufactura de alta precisión. 


Los sistemas ópticos ZEISS Axio Imager, ZEISS Axio Zoom.V16 y ZEISS SteREO Discovery.V8 forman la plataforma central para análisis de Technical Cleanliness (TCA) conforme a VDA 19.1 e ISO 16232. Estos equipos permiten la detección, medición y clasificación de partículas metálicas brillantes, no brillantes y fibras con alta repetibilidad y trazabilidad. 

  • Axioscope 7 – para partículas ≥ 50 μm
  • Discovery – para partículas ≥ 15 μm 
  • AxioZoom – para partículas ≥ 5 μm 
  • AxioImager – para partículas ≥ 1 μm  


ZEN TCA es el módulo de ZEISS diseñado para realizar análisis de limpieza técnica conforme a los principales estándares internacionales, incluyendo VDA 19.1, ISO 16232, ISO 4406, ISO 4407, NAS 1638, SAE AS 4059, entre otros. Permite evaluar contaminación por partículas en componentes, aceites, lubricantes y dispositivos médicos, asegurando que los productos cumplan con los niveles de limpieza exigidos por la industria automotriz, aeroespacial y de manufactura avanzada. 

  • Flujos de trabajo estandarizados: adquisición de imágenes, análisis, procesamiento y cálculo de resultados conforme a normas.  
  • Clasificación automática de partículas por tamaño, tipo y características (metálicas brillantes, no brillantes, fibras, artefactos).  
  • Vistas interactivas para inspección rápida, revisión y filtrado de partículas detectadas. 
  • Reportes completos y trazables, con valores característicos y métodos específicos por norma.  
  • Archivado automático de resultados y exportación de datos para auditorías o análisis posteriores. 
  • Compatibilidad con GxP, asegurando trazabilidad total mediante auditoría de cambios en el flujo de trabajo.  


Correlative TCA es la solución de ZEISS que integra el análisis de limpieza técnica (TCA) con la microscopía electrónica de barrido (SEM) para obtener caracterización avanzada de partículas más allá de lo que permite la microscopía óptica. 

El flujo de trabajo combina la detección y clasificación de partículas en microscopía óptica con análisis SEM/EDS totalmente correlacionado, permitiendo identificar composición elemental, morfología detallada y origen probable de contaminantes críticos. 

  • Selección automática o manual de partículas detectadas en TCA para análisis SEM/EDS. 
  • Correlación precisa entre la imagen óptica y la ubicación real de la partícula en el SEM. 
  • Confirmación de materiales (metales, óxidos, fibras, polímeros, abrasivos) mediante espectros EDS. 
  • Mayor confiabilidad en la clasificación, eliminando falsos positivos y diferenciando partículas brillantes, no brillantes y fibras. 
  • Trazabilidad completa del flujo de trabajo, desde la extracción hasta el análisis elemental. 


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