Software ZEN para materiales

ZEN core es la plataforma de análisis de imágenes industriales de ZEISS que combina imaging, segmentación y análisis automatizado para caracterizar microestructuras en metalografía y materiales; su motor basado en IA permite identificar fases, granos, inclusiones y defectos, cuantificar parámetros críticos y generar reportes trazables, integrando datos de microscopía óptica y electrónica dentro de un flujo centralizado de análisis. 


Módulos de análisis metalográfico 

  • Grain Size Module (ASTM E112) — cálculo automático del tamaño de grano por interceptos, planimétrico y comparación de placas. 
    DIN EN ISO 643:2012 
  • ASTM E 112-13 Plate I-IV 
  • GB/T 6394 2017 Plate I-IV 
  • Phase Analysis Module — cuantificación de fases (ferrita, perlita, martensita, grafito, etc.). 
  • Layer Thickness Module — medición automática de espesores de recubrimientos y capas metalúrgicas. 
  • Decarburization Module (ASTM E1077) — análisis de descarburación total y parcial. 
  • Porosity Analysis Module — detección y cuantificación de poros en metales, soldaduras y fundiciones. 
  • Inclusion Rating Module (ISO 4967 / ASTM E45) — clasificación automática de inclusiones no metálicas. 
    • ASTM E45 
    • ISO 4967 
    • GB/T 10561 
    • EN 10247 
    • DIN 50602 
  • Graphite Analysis Module (ISO 945) — clasificación de grafito en fundiciones grises y nodulares.  
    EN ISO 945-1: 2008 + Cor. 1: 2010 
  • Coating Structure Module — análisis de microestructuras en recubrimientos térmicos y superficiales.  


  • Interactive Measurement Module — mediciones manuales y semiautomáticas (longitud, área, ángulos, perímetros). 
  • Automatic Measurement Module — mediciones repetitivas basadas en reglas y detección automática de bordes. 
  • Object Counting Module — conteo de partículas, inclusiones, poros o fases. 
  • Particle Analysis Module — clasificación por tamaño, forma, circularidad, elongación, etc. 


  • AI Segmentation Module — segmentación basada en redes neuronales entrenables por el usuario.
  • Classic Segmentation Module — umbralización, watershed, detección de bordes, separación de fases.
  • Image Enhancement Module — filtros, corrección de iluminación, reducción de ruido. 
  • Multichannel Analysis Module — análisis de imágenes con múltiples canales (fluorescencia, contraste, color). 


  • ZEN Connect — correlación de imágenes entre diferentes microscopios (óptico + SEM). 
  • ZEN Shuttle & Find — navegación correlativa entre óptico y electrónico. 
  • Macro Recorder / Automation Module — creación de rutinas automáticas de análisis. 
  • Batch Processing Module — análisis masivo de imágenes con parámetros predefinidos. 

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  • Database Module — almacenamiento centralizado de imágenes, resultados y metadatos. 
  • Reporting Module — generación automática de reportes con imágenes, tablas y estadísticas. 
  • PiWeb Connectivity Module — integración con ZEISS PiWeb para trazabilidad industrial. 
  • Audit Trail Module — registro de cambios para cumplimiento normativo. 


  • Módulos de integración con hardware ZEISS 
  • Microscope Control Module — control de Axio Imager, Axio Observer, Axiolab, Stemi, etc. 
  • Stage & Focus Control Module — automatización de recorridos, mosaicos y Z-stacks. 
  • SEM Integration Module — conexión con EVO, Sigma, GeminiSEM. 
  • EDS Integration Module — análisis químico correlativo. 

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